शुष्क -प्रकार के ट्रांसफार्मर के लिए 7 नियमित परीक्षण जो आपको कमीशनिंग के दौरान करने चाहिए

प्रत्येक शुष्क - प्रकार के वितरण ट्रांसफार्मर को एक परिभाषित सेट से गुजरना होगानियमित परीक्षणइससे पहले कि यह ग्रिड से जुड़ा हो। ये परीक्षण, द्वारा अनिवार्य हैंआईईसी 60076-1औरआईईसी 60076-11, सत्यापित करें कि ट्रांसफार्मर की विद्युत, यांत्रिक और इन्सुलेशन विशेषताएँ डिज़ाइन विनिर्देशों को पूरा करती हैं।

 

इन सात ड्राई{0}}प्रकार के ट्रांसफार्मर नियमित परीक्षणों को छोड़ने या जल्दबाजी करने से निम्न परिणाम हो सकते हैं:

• अज्ञात आंतरिक वाइंडिंग दोष जो विनाशकारी विफलताओं में विकसित होते हैं
• ऑपरेटिंग वोल्टेज के तहत इन्सुलेशन टूटना
• गलत वोल्टेज अनुपात के कारण डाउनस्ट्रीम उपकरण क्षतिग्रस्त हो जाते हैं
• अत्यधिक भार हानि के कारण समय से पहले बूढ़ा होना

 

GNEE शुष्क-प्रकार के ट्रांसफार्मर के बारे में और जानें

 

जीएनईई हमारी फैक्ट्री छोड़ने से पहले हर सूखे प्रकार के ट्रांसफार्मर पर इन सात नियमित परीक्षणों में से प्रत्येक को निष्पादित करता है, और हम दृढ़ता से अनुशंसा करते हैं कि कमीशनिंग इंजीनियर साइट पर प्रमुख मापों को दोहराएं या सत्यापित करें।

 

कमीशनिंग के दौरान सूखे प्रकार के ट्रांसफार्मर के लिए 7 नियमित परीक्षण

 

 

 

ढांकता हुआ नियमित परीक्षणप्रत्येक वाइंडिंग पर एक उच्च वोल्टेज एसी तरंग लागू करता है जबकि अन्य सभी वाइंडिंग, कोर, फ्रेम और संलग्नक पृथ्वी से जुड़े होते हैं।

 

• परीक्षण प्रक्रिया:परीक्षणाधीन वाइंडिंग और सभी अर्थ्ड घटकों के बीच रेटेड आवृत्ति पर एक साइनसॉइडल वोल्टेज 60 सेकंड के लिए लगाया जाता है।
• स्वीकृति मानदंड:परीक्षण सफल है यदिकोई ब्रेकडाउन, फ्लैशओवर या आंशिक डिस्चार्ज विफलता नहींपूरे 60-सेकंड के अनुप्रयोग के दौरान होता है।
• परीक्षण वोल्टेज सूत्र:शुष्क प्रकार के ट्रांसफार्मर के लिए, लागू परीक्षण वोल्टेज आम तौर पर 2 × रेटेड वोल्टेज + 1,000 V होता है, जिसे उपकरण के उच्चतम वोल्टेज उम के लिए प्रासंगिक IEC 60076-3 तालिका के अनुसार समायोजित किया जाता है।

 

यह परीक्षण पुष्टि करता है कि ट्रांसफार्मर का ठोस इन्सुलेशन सिस्टम - चाहे कास्ट रेज़िन हो या वीपीआई संसेचित - स्विचिंग ऑपरेशन या बिजली के हमलों के दौरान होने वाले क्षणिक ओवरवॉल्टेज का सामना कर सकता है।

 

परावैद्युत परीक्षण - अलग-अलग स्रोत वोल्टेज प्रतिरोध परीक्षण

 

प्रेरित वोल्टेज नियमित परीक्षणट्रांसफार्मर को द्वितीयक वाइंडिंग टर्मिनलों पर उसके रेटेड वोल्टेज से दोगुना कर देता है, जबकि प्राथमिक वाइंडिंग खुली रहती है।

 

• परीक्षण अवधि:रेटेड आवृत्ति से दोगुने पर पूर्ण परीक्षण वोल्टेज पर 60 सेकंड।
• रैंप अनुक्रम:वोल्टेज पूर्ण परीक्षण मूल्य के एक {{0}तिहाई से नीचे शुरू होता है, तेजी से बढ़ता है, और अंत में वियोग से पहले तेजी से एक{1}तिहाई से नीचे कम हो जाता है।
• आवृत्ति आवश्यकता:वोल्टेज को दोगुना करते समय चुंबकीय कोर संतृप्ति से बचने के लिए रेटेड आवृत्ति को दो बार लागू किया जाता है।

 

इस परीक्षण के दौरान कोई भी विफलता - जैसेआंशिक निर्वहन, श्रव्य कोरोना, या इन्सुलेशन पंचर- एक गंभीर वाइंडिंग इन्सुलेशन दोष को इंगित करता है जिसे ट्रांसफार्मर को सुरक्षित रूप से सक्रिय करने से पहले ठीक किया जाना चाहिए।

 

प्रेरित वोल्टेज परीक्षण

 

 

वोल्टेज अनुपात माप नियमित परीक्षणयह सुनिश्चित करता है कि ट्रांसफार्मर प्रत्येक नल स्थिति पर सही द्वितीयक वोल्टेज वितरित करेगा।

• तरीका:प्रत्येक वाइंडिंग जोड़ी के संबंधित टर्मिनलों के बीच चरण दर चरण पोटेंशियोमेट्रिक माप।
• परिवर्तक सत्यापन टैप करें:माप को दोहराया जाना चाहिएसभी नल परिवर्तक स्थितियाँयह पुष्टि करने के लिए कि प्रत्येक चरण सही वोल्टेज अनुपात उत्पन्न करता है।
• ध्रुवीयता और वेक्टर समूह की जाँच:कनेक्शन समूह पदनाम (उदाहरण के लिए, Dyn11, Yyn0) नेमप्लेट डेटा से मेल खाना चाहिए।

 

वोल्टेज अनुपात माप और ध्रुवता/कनेक्शन की जांच

 

रेटेड अनुपात से स्वीकार्य विचलन आम तौर पर है:

स्थिति टैप करें	अधिकतम अनुपात विचलन
रेटेड (प्रिंसिपल) टैप	±0.5%
अन्य सभी नल स्थितियाँ	±1.0%

 

इन सीमाओं से अधिक विचलन सुझाव देते हैंछोटे मोड़, गलत वाइंडिंग कनेक्शन, या टैप चेंजर का गलत संरेखण. जीएनईई में, हम प्रत्येक टैप सेटिंग पर प्रत्येक ट्रांसफार्मर का परीक्षण करते हैं और प्रत्येक शिपमेंट के साथ आने वाली अंतिम परीक्षण रिपोर्ट में परिणाम रिकॉर्ड करते हैं।

 

 

यहशुष्क-प्रकार के ट्रांसफार्मर दक्षता के लिए नियमित परीक्षणरेटेड वोल्टेज और आवृत्ति पर द्वितीयक वाइंडिंग को सक्रिय करके कोर के चुंबकीय प्रदर्शन को मापता है जबकि प्राथमिक खुला रहता है।

• माप पैरामीटर:कोई {{0}लोड करंट (उत्तेजना करंट), कोई नहीं -लोड हानि (लौह हानि), और लागू वोल्टेज का माध्य और आरएमएस मान।
• आवृत्ति सहनशीलता:परीक्षण आवृत्ति ±1% से अधिक नहीं घटनी चाहिए।
• साइन-वेव सुधार:यदि माध्य और आरएमएस वोल्टेज रीडिंग अलग-अलग हैं, तो मापी गई संख्या {{0} लोड हानि को साइन {{1} तरंग स्थितियों के अनुसार ठीक किया जाना चाहिएआईईसी 60076-1 अनुलग्नक ए.
• औसत:कोई भी {{0}लोड करंट तीन प्रभावी -मान एमीटर रीडिंग का अंकगणितीय माध्य नहीं है।

 

नहीं-लोड करंट और नहीं-लोड हानि माप

 

फ़ैक्टरी बेसलाइन की तुलना में उच्च नो - लोड करंट या हानि यह संकेत दे सकती है:

• डिग्रेडेड कोर लेमिनेशन इन्सुलेशन (परिवहन क्षति के दौरान संभव)
• इन्सुलेशन प्रणाली में नमी का प्रवेश
• कोर असेंबली में विनिर्माण दोष

 

जीएनईई के शुष्क - प्रकार के ट्रांसफार्मर के लिए डिज़ाइन किए गए हैंकम संख्या में -लोड हानि, क्षेत्रीय ऊर्जा नियमों द्वारा परिभाषित दक्षता वर्गों को पूरा करना या उससे अधिक करना। प्रत्येक इकाई का लोड माप परीक्षण प्रमाणपत्र में प्रलेखित है।

 

 

वाइंडिंग प्रतिरोध माप तब किया जाएगा जब वाइंडिंग इस स्थिति को प्राप्त करने के लिए पर्याप्त समय तक आपूर्ति के बिना परिवेश के तापमान पर हो। माप टर्मिनलों के बीच प्रत्यक्ष धारा में अनुक्रम U-V के अनुसार किया जाएगा; वी-डब्ल्यू; वू.

परिवेश का तापमान भी मापा जाएगा। इसका परिणाम एपोसिट थर्मल सेंसर द्वारा किए गए तीन मापों के औसत मूल्य के रूप में होगा।

 

5.1 एचवी वाइंडिंग प्रतिरोध माप

एचवी वाइंडिंग प्रतिरोध माप एक साथ वोल्टेज और करंट को मापकर किया जाएगा। वोल्टमीटर और एमीटर को निम्नानुसार जोड़ा जाना चाहिए:

• वोल्टमीटर टर्मिनलों को वर्तमान केबलों से परे जोड़ा जाना चाहिए;
• करंट वाइंडिंग रेटेड करंट के 10% से अधिक नहीं होना चाहिए;
• वोल्टेज और करंट स्थिर होने के बाद माप किया जाएगा।
• जब तक अन्यथा सहमति न हो, एचवी वाइंडिंग को प्रिंसिपल टैपिंग पर जोड़ा जाएगा।

 

5.2 एलवी वाइंडिंग प्रतिरोध माप

एलवी वाइंडिंग प्रतिरोध माप एक साथ वोल्टेज और करंट को मापकर किया जाएगा।

वोल्टमीटर और एमीटर को निम्नानुसार जोड़ा जाएगा:

• वोल्टमीटर टर्मिनलों को वर्तमान केबलों से परे जोड़ा जाएगा;
• करंट वाइंडिंग रेटेड करंट के 5% से अधिक नहीं होना चाहिए;
• वोल्टेज और करंट स्थिर होने के बाद माप किया जाएगा।

 

 

 

यह नियमित परीक्षण निर्धारित करता हैलघु-सर्किट प्रतिबाधाट्रांसफार्मर का, सुरक्षा उपकरणों के समन्वय और संभावित दोष धाराओं की गणना के लिए एक महत्वपूर्ण पैरामीटर।

• प्रक्रिया:एक वाइंडिंग छोटी -सर्किट होती है जबकि रेटेड करंट प्रवाहित होने तक दूसरी वाइंडिंग पर वोल्टेज लगाया जाता है।
• माप:इनपुट वोल्टेज (प्रतिबाधा के आनुपातिक), इनपुट पावर (लोड लॉस), और करंट रिकॉर्ड किया जाता है।
• तापमान सुधार:गारंटीकृत मानों की तुलना के लिए लोड हानियों को 75 डिग्री के संदर्भ तापमान पर ठीक किया जाता है।

 

शॉर्ट-सर्किट हानि माप कनेक्शन आरेख

 

मापी गई शॉर्ट-सर्किट प्रतिबाधा को आम तौर पर रेटेड प्रतिबाधा के प्रतिशत के रूप में व्यक्त किया जाता है:

ट्रांसफार्मर पावर रेटिंग	विशिष्ट प्रतिबाधा सीमा (% Z)
630 केवीए से कम या उसके बराबर	4.0% – 4.5%
800 - 1,600 केवीए	5.0% – 6.0%
2,000 केवीए से अधिक या उसके बराबर	6.0% – 8.0%

 

प्रतिबाधा सहनशीलताआईईसी 60076-1घोषित मूल्य का ±10% है। इस बैंड से परे विचलन वाइंडिंग विरूपण, कोर विस्थापन, या गलत वाइंडिंग ज्यामिति - का संकेत दे सकता है, इन सभी की जांच ऊर्जाकरण से पहले की जानी चाहिए।

 

 

सभी पीडी मापने के तरीके प्रतिबाधा Zm को मापने के माध्यम से समानांतर जुड़े कैपेसिटर सीके (युग्मन कैपेसिटर) और सीटी (टेस्ट ऑब्जेक्ट कैपेसिटेंस) में प्रसारित पीडी वर्तमान आवेगों i(t) का पता लगाने पर आधारित हैं।

 

पीडी माप के लिए मूल समतुल्य सर्किट चित्र में प्रस्तुत किया गया है।

 

कैपेसिटिव टैप के बिना माप के लिए परीक्षण सर्किट

 

कहाँ:

• पीडीएस=पीडी प्रणाली
• सीके=युग्मन संधारित्र
• सीटी=ऑब्जेक्ट कैपेसिटेंस का परीक्षण करें
• Z=वोल्टेज स्रोत कनेक्शन
• Zm=प्रतिबाधा मापना

 

मापने वाली प्रतिबाधा Zm को या तो युग्मन संधारित्र Ck के साथ या परीक्षण ऑब्जेक्ट कैपेसिटेंस Ct के साथ श्रृंखला में जोड़ा जा सकता है। पीडी वर्तमान आवेग समानांतर जुड़े कैपेसिटर सीके (युग्मन कैपेसिटर) और सीटी (टेस्ट ऑब्जेक्ट कैपेसिटेंस) के बीच चार्ज ट्रांसफर द्वारा उत्पन्न होते हैं।

 

वर्तमान आईईसी और आईईईई मानकों में अनुमेय परिमाण पर विशिष्टताओं के साथ-साथ आंशिक निर्वहन के कारण होने वाले विद्युत संकेतों को मापने और मूल्यांकन करने के लिए स्थापित नियम हैं। रिकॉर्ड किए गए इलेक्ट्रिक सिग्नल के प्रसंस्करण के लिए आईईसी दृष्टिकोण आईईईई दृष्टिकोण से अलग है।

 

IEC सिग्नल को एक स्पष्ट इलेक्ट्रिक चार्ज में बदल देता है जिसे आमतौर पर पिकोकोलोम्ब्स (pC) में मापा जाता है, जबकि IEEE सिग्नल को रेडियो इंटरफेरेंस वोल्टेज (RIV) में बदल देता है, जिसे आमतौर पर माइक्रो वोल्ट (µV) में मापा जाता है। पीडी-सिग्नल का पता लगाने के लिए आरआईवी{1}}विधि का उपयोग छोड़ दिया जाएगा, हालांकि आईईईई मानक को अभी तक आधिकारिक तौर पर अनुमोदित नहीं किया गया है।

 

पीसी में स्पष्ट चार्ज का पता लगाना अब आईईईई कक्षा में उपयोग में आने वाली पसंदीदा विधि है। सी57.113.

 

स्पष्ट आवेश का पता लगाने के लिए PD{0}}वर्तमान आवेग i(t) का एकीकरण आवश्यक है।

 

पीडी वर्तमान आवेगों का एकीकरण या तो समय डोमेन (डिजिटल ऑसिलोस्कोप) या आवृत्ति डोमेन (बैंड - पास फ़िल्टर) में किया जा सकता है। बाज़ार में उपलब्ध अधिकांश पीडी प्रणालियाँ "विस्तृत-बैंड" या "संकीर्ण-बैंड" फ़िल्टर का उपयोग करके आवृत्ति डोमेन में पीडी वर्तमान आवेगों का "अर्ध एकीकरण" करती हैं।

 

परिसंचारी पीडी वर्तमान आवेग - एक बाहरी पीडी स्रोत (परीक्षण सर्किट में) या एक आंतरिक पीडी स्रोत (ट्रांसफार्मर की इन्सुलेट प्रणाली में) द्वारा उत्पन्न - केवल ट्रांसफार्मर बुशिंग पर मापा जा सकता है।

 

बुशिंग कैपेसिटेंस C1, कपलिंग कैपेसिटर Ck का प्रतिनिधित्व करता है, जो कैपेसिटेंस Ct (ट्रांसफार्मर इंसुलेटिंग सिस्टम की कुल कैपेसिटेंस परीक्षण वस्तु =) के साथ समानांतर में जुड़ा हुआ है।

 

 

कमीशनिंग के दौरान सूखे - प्रकार के ट्रांसफार्मर के लिए सात नियमित परीक्षणवैकल्पिक औपचारिकताएं नहीं हैं - वे आवश्यक गुणवत्ता वाले द्वार हैं जो उपकरण की अखंडता को सत्यापित करते हैं, कर्मियों की सुरक्षा सुनिश्चित करते हैं और आपके प्रोजेक्ट की प्रतिष्ठा की रक्षा करते हैं। सेढांकता हुआ प्रतिरोध और प्रेरित वोल्टेज परीक्षणकोवाइंडिंग प्रतिरोध और शॉर्ट-सर्किट प्रतिबाधा माप, प्रत्येक परीक्षण परिचालन आपदा बनने से पहले विशिष्ट संभावित विफलता मोड का खुलासा करता है।

 

क्या आप एक ऐसी परियोजना की योजना बना रहे हैं जिसके लिए पूर्ण फ़ैक्टरी परीक्षण दस्तावेज़ीकरण के साथ IEC{{0}अनुपालक शुष्क-प्रकार के ट्रांसफार्मर की आवश्यकता है?

 

कस्टम कोटेशन और फ़ैक्टरी परीक्षण विनिर्देश पैकेज के लिए आज ही GNEE से संपर्क करें।

जीएनईई को परीक्षणित, प्रमाणित और विश्वसनीय ड्राई - प्रकार के पावर ट्रांसफार्मर के लिए आपका प्रत्यक्ष निर्माता भागीदार बनने दें।

 

एक उद्धरण का अनुरोध करें